日本nanogray B射線測厚儀SB-1100

更新日期：2024-05-15

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簡要描述：

日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。

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產(chǎn)品介紹

日本nanogray B射線測厚儀SB-1100

這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基重）。
　通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸, 導(dǎo)致結(jié)果. 高精度測量是困難的。
　另一方面，在β射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與滲透之間的衰減，但樣品的衰減遠大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。

β射線測厚儀的一般特點

可以在不依賴元素的情況下測量基重。

與傳統(tǒng)的 β 射線測厚儀相比，我們的 β 射線測厚儀的特點

無需設(shè)置資質(zhì)或控制區(qū)域（認證設(shè)備帶顯示）
探測器和 β 射線源體積小、重量輕，即使在狹窄的線路中也可以安裝。

用途

塑料薄膜（多層擠塑薄膜等）
電池電極（鋰離子電池（負極/正極）、鎳氫電池等）
玻璃纖維布
陶瓷片
銅箔、鋁箔、不銹鋼箔

日本nanogray B射線測厚儀SB-1100

物品	規(guī)格
β射線測厚儀SB-1100技術(shù)參數(shù)
姓名	Beta射線測厚儀SB-1100
測量方法	β射線透射法
認證號碼	Set 114（帶顯示器的認證設(shè)備）
檢測方法	閃爍探測器法
測量間距	標(biāo)準2mm（也可提供更細間距）
掃描寬度	標(biāo)準150-3000mm（也可提供其他寬度）
掃描速度	15-200 毫米/秒（標(biāo)準）
框架結(jié)構(gòu)	O型及其他各種車架
測量范圍	0-200g/m ²
光斑尺寸	約φ8.0mm（標(biāo)準）（工作中）
貝塔射線源	80 x 110 毫米 x 235 毫米（標(biāo)準）
檢測單元	80 x 110 毫米 x 235 毫米（標(biāo)準）
電源	100V單相1kVA