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X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ LD
更新日期：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡(jiǎn)要描述：
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ LDFISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -μ LD由于與樣品的測(cè)量距離約為 12 mm，因此它是一種高性能的熒光 X 射線膜厚測(cè)量?jī)x，適用于材料分析和膜厚測(cè)量，適用于測(cè)量安裝有臺(tái)階的基板。
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ LD
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ LD
日本進(jìn)口fischerX射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ LD
特征
- 與樣品的測(cè)量距離長(zhǎng)的長(zhǎng)距離型
- 適用于測(cè)量帶臺(tái)階的安裝板
- 用于顯微測(cè)量的微聚焦管和多毛細(xì)管透鏡
- 使用可編程 XY 平臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量
主要規(guī)格
它是一種使用多毛細(xì)管光學(xué)元件的熒光 X 射線測(cè)量設(shè)備。
此外，由于是長(zhǎng)距離型，測(cè)量距離約為 12 mm，因此可以在安裝有臺(tái)階的板上無損地測(cè)量膜厚和分析材料。
| 模型 | XDV-μLD |
|---|---|
| 測(cè)量元件范圍 | 小號(hào) (16) - 小號(hào) (92) |
| X射線探測(cè)器 | 硅漂移探測(cè)器 (SDD) |
| X射線管 | 微調(diào)焦管 |
| 初級(jí)過濾器 | 4種 |
| X射線光學(xué) | 多毛細(xì)管 |
| 測(cè)量光斑尺寸 | 約Φ80µm |
| 測(cè)量距離（與樣品的距離） | 約12mm |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達(dá) 120W |
主要應(yīng)用
- 印刷電路板、連接器等形狀復(fù)雜的小零件和結(jié)構(gòu)零件的測(cè)量
- 薄膜厚度測(cè)量（示例）Au ≤0.1 µm
- 復(fù)雜多層涂層的成分分析和膜厚測(cè)量
- 可以安裝可選的大型板和柔性印刷線路板的擴(kuò)展板
