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日本densoku渦流膜厚計(jì)DMC-211
更新日期：2024-05-11
訪問量：740
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本densoku渦流膜厚計(jì)DMC-211
日本densoku渦流膜厚計(jì)DMC-211
?非常適合于1秒鐘內(nèi)進(jìn)行無(wú)損測(cè)量檢查?
使用個(gè)人計(jì)算機(jī)輕松進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)量操作?
只需將探頭應(yīng)用于被測(cè)物體即可自動(dòng)捕獲測(cè)量值
?特性曲線（校準(zhǔn)曲線）是標(biāo)準(zhǔn)的70個(gè)存儲(chǔ)器
?每個(gè)通道都注冊(cè)了公司名稱，部件號(hào)，批號(hào)
渦流膜厚儀DMC-211的特點(diǎn)
數(shù)字顯示測(cè)量值，讀數(shù)
在短時(shí)間內(nèi)（1秒以內(nèi)），大多數(shù)金屬上的膜（鋁上的氧化膜，鋅/鉻上的鍍層/鉻/鐵上的鍍層），非金屬上的大多數(shù)金屬膜（塑料上的鍍層等）都可以測(cè)量，具有破壞性，它是檢查的理想選擇。
使用個(gè)人計(jì)算機(jī)易于操作
通過使用個(gè)人計(jì)算機(jī)可以輕松進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)量等操作。可以選擇各種測(cè)量模式，從而易于測(cè)量小零件，例如螺絲頭，線材和壓鑄產(chǎn)品。
配備[自動(dòng)捕獲]模式
在[自動(dòng)捕獲]模式下，只需將探頭觸碰到要測(cè)量的對(duì)象并將其釋放，即可自動(dòng)捕獲測(cè)量值。
具有豐富的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）的存儲(chǔ)器
標(biāo)準(zhǔn)存儲(chǔ)70條自動(dòng)選擇特性曲線（校準(zhǔn)曲線）。如果您有用于特殊材料的標(biāo)準(zhǔn)板，則可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）。
公司信息渠道注冊(cè)功能
可以為每個(gè)通道注冊(cè)對(duì)方的公司名稱，部件號(hào)和批號(hào)。
頻道總數(shù)：40頻道
配備統(tǒng)計(jì)處理功能
可以保存每個(gè)通道的測(cè)量數(shù)據(jù)，以后可以為測(cè)量數(shù)據(jù)設(shè)置統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目以進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。
測(cè)量單位
測(cè)量單位是毫米，微米，密耳，密耳。
可以隨時(shí)更位，并自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量值。
測(cè)量原理
 | 當(dāng)載有高頻電流的探頭（測(cè)量線圈）靠近金屬時(shí)，在金屬表面會(huì)產(chǎn)生渦電流。該渦電流受到高頻磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率，金屬的電導(dǎo)率，厚度，形狀等的影響，并且穿透深度及其大小不同。 然后，渦流流動(dòng)以抵消探針的高頻磁場(chǎng)，從而探針的高頻電阻值改變。由于高頻電阻的這種變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例，因此通過將其與內(nèi)置或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）進(jìn)行比較，可以將其轉(zhuǎn)換為薄膜厚度值，并顯示在在計(jì)算機(jī)屏幕上顯示它。 |
渦流膜厚儀DMC-211的規(guī)格
| 型號(hào)（主體） | Dermes DMC-211型 |
| 原則 | 渦流法 |
| 測(cè)量方式 | 厚度測(cè)量 |
| 通道數(shù) | 40個(gè)頻道 |
| 資料容量 | 100,000個(gè)數(shù)據(jù) |
| 展示 | 取決于計(jì)算機(jī)的顯示器屏幕 |
| 統(tǒng)計(jì)處理 | 值，最小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，直方圖，上限和下限設(shè)置 |
| 電源 | AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主機(jī)） |
| 重量 | 3.0公斤 |
| 尺寸 | 280（寬）x 230（深）x 88（高）毫米 |
（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。
渦流膜厚儀DMC-211的探頭規(guī)格
| 1. 探頭有效范圍使用超細(xì)探頭時(shí) | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長(zhǎng) | 900毫米 |
| 3.根據(jù)導(dǎo)向器的類型可以在彎曲的表面上進(jìn)行測(cè)量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面（標(biāo)準(zhǔn)） SM類型...平坦凹凸曲面（微細(xì)的） RP類型...凹面，管內(nèi)面 SR型...用于小直徑管道內(nèi)表面 由所述膜測(cè)得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平面測(cè)量 ＃120：φ25-60mm凸曲面測(cè)量 |
